J-Ras离子迁移试验装置 1000V 2000V 3000V
设备简介：
HVUα-1000/2000/3000试验装置是J-RAS公司开发的一种高
电压的离子迁移试验设备，最高电压可达到4000V，广泛应用于
新能源、汽车电子、5G通讯等产品可靠性检测。
性能优势：
1.具备高、低电压测试自动切换功能，电压稳定，精度高（±〔0.3％(F.S.)+0.5〕V (计测偏压精度)）
2.各通道可以独立设定不同电压
3.每个通道均有电流过载保护，可保护设备及测试样品
4.模组化设计，轻便，占地小，易维护
5.TRIAXIAL三重隔离线设计，可有效屏蔽干扰信号
|
Specitications规格参数
|
|
硬体项目
|
规格·性能·其他
|
|
HVUα-1000
|
HVUα-2000
|
HVUα-3000
|
|
框
体
|
通道
|
5-50通道
|
|
筐体寸法
|
410mm(W)×480mm(H)×324mm(D)(突起部除外)
|
|
重量
|
23KG（50通道）
|
|
性
能
|
电压范围
|
50-1000V
|
50-2000V
|
100-3000V
|
|
最大输出电流
|
About 1.4mA/CH
|
About 600μA/CH
|
About 400μA/CH
|
|
电压设定格式
|
1V为单位
|
|
计测输入电压范围
|
50-1000V
|
50-2000V
|
100-3000V
|
|
计测电流范围
|
140nA/14uA/1.4mA
|
60nA/6uA/600mA
|
40nA/4uA/400mA
|
|
计测电阻范围
|
36kΩ~7.2TΩ
|
83kΩ~33TΩ
|
250kΩ~75TΩ
|
|
输出电压格式
|
5通道独立显示电压，单独控制开/关
|
|
软体
|
计测电阻范围
|
2.5K-75TΩ（最高4PΩ）/最大通道数 200通道（50CH通道一组，共4组）
|
|
扫描速度
|
最大 50msec/通道
|
|
测试时间
|
1min-10000H
|
|
数据收录间隔
|
1-60min（可以任意1min为定期）
|
