博曼X射线镀层测厚仪 BA-100
产品用途：
可用于半导体、PCB板、汽车部件等产品表面镀层测试。
性能优势：
1.良好的元素分辨率，无需二次滤波器
2.峰位长时间保持稳定
3.无需频繁进行校准
4.可以测量更小的面积，更多层的镀层，更薄的镀层厚度，测量数据非常稳定
5.操作简单，可按需求自定义测量报告机报告可以一键生成（PDF或CSV等格式）
6.智能报告输出格式可以将测试位置图片全部输出，便于观察和分析
7、测量精度高，稳定性强，SDD和Si-PIN探测器可以选择。
|
Specitications规格参数
|
|
项次
|
项目
|
规格/技术参数
|
|
1
|
测量方向
|
从上往下
|
|
2
|
外形尺寸
|
450x450x600 mm
|
|
3
|
辐射剂量
|
符合国家X射线装置豁免管理规定
|
|
4
|
X射线源
|
X射线管（W靶微聚焦光管），50KV, 0.1mA
|
|
5
|
可调高压
|
20~50kv 连续可调
|
|
6
|
基本滤波片
|
4个Al滤波器
|
|
7
|
准直器
|
四个， Ø 0.1mm 、Ø 0.2mm、Ø 0.3mm、Ø
0.6mm
|
|
8
|
X射线接收器
|
Amptek Si-PIN 接收器，分辨率 139~190eV FWHM
|
|
9
|
视频显微镜
|
高分辨CCD彩色相机
|
|
10
|
放大倍数
|
倍率30X
|
|
11
|
聚焦
|
自动激光聚焦
|
|
12
|
可同时测量镀层数量
|
4层
|
|
13
|
Z轴行程
|
135mm
|
|
14
|
可测试样品最大面积
|
600x600mm
|
|
15
|
可测试样品最大重量
|
10 kg
|
|
16
|
样品仓内最大样品高度
|
开槽高度15mm，仓内最大样品高度140mm
|
|
17
|
测试时间
|
40~120S，用户可根据镀层结构和精度要求进行调整，建议40以上
|
|
18
|
计算机配置&软件
|
I5处理器, 8G RAM, 500G固态硬盘，显示器采用21英寸，操作系统采用简体Windows 10专业版；Bowman Xralizer V3.0.5
|
